Display Process

패널에 표준 테스트 영상 신호를 인가해 라인 결함, 색상 불량, 휘도 이상 등을 육안 또는 자동 검사(AOI) 장비와 연계해 검출합니다. 다양한 해상도·인터페이스(LVDS, eDP, MIPI 등)의 패널에 대응합니다.

• 단색·그라데이션·격자 등 표준 검사 패턴 출력
• 패널 인터페이스별 신호 규격 대응
• AOI 연동을 통한 자동 결함 판정

장시간 전원 인가 및 구동 상태를 유지시켜 초기 불량(Early Failure)을 선별하는 신뢰성 시험입니다. 다면 동시 Aging을 통해 양산 처리량을 확보합니다.

• 장시간 연속 구동을 통한 초기 결함 스크리닝
• 다단·다면 랙(Rack) 구성으로 동시 처리
• 온도/전압 조건 설정을 통한 스트레스 시험 옵션

패널 구동 IC에 펌웨어·감마·타이밍 데이터를 기록하는 Download 공정과, 패널별 밝기·색 편차(Mura)를 카메라로 측정해 보정하는 Demura 공정을 하나의 흐름으로 진행해 화면 균일도(Uniformity)를 개선합니다.

• 구동 IC 펌웨어·감마·타이밍 데이터 기록 (Download)
• 카메라 기반 휘도·색좌표 측정 및 보정 (Demura)
• OLED/LCD 화면 균일도 개선